[发明专利]测试仪对多个芯片测试时芯片内用户码下载方法有效

专利信息
申请号: 200710094413.0 申请日: 2007-12-10
公开(公告)号: CN101458294A 公开(公告)日: 2009-06-17
发明(设计)人: 黄海华 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3183
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人: 周 赤
地址: 201206上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种测试仪对多个芯片测试时芯片内用户码下载方法,针对多芯片同时测定时要求每个芯片中写入的用户码数据都不一样的情况,在进行数据下载时,将需要下载的数据先存储到测试仪的数字波形发生器中,通过数字波形发生器与不同芯片测试通道的链接,调用SQPG测试向量将连接到的资源里的这些代码数据写到指定芯片的存储单元中,能保证同测时不同的芯片有不同的数据。本发明的方法通过对测试仪模拟测试单元硬件的独特运用能让测试仪更快的对芯片中的存储单元写入任意数据。
搜索关键词: 测试仪 芯片 测试 用户 下载 方法
【主权项】:
1、一种测试仪对多个芯片测试时芯片内用户码下载方法,测试仪包括测试控制单元、硬盘、序列图形发生器、数字波形发生器,其特征在于,包括以下步骤:(1). 建立一个数组对应各枚芯片的用户码的数据文件号;(2). 读取数组,决定调用哪个数据文件;(3). 将所述数据文件中的数据进行格式转换并存到数字波形发生器中;(4). 设定数字波形发生器与多个芯片测试通道的链接,所述数字波形发生器是个多比特的存储器,将不同芯片的测试通道链接到数字波形发生器的不同比特位;(5). 通过调用序列图形发生器测试向量将数字波形发生器中的数据根据芯片的存储单元的写命令格式写入到各个相应的待测芯片的存储单元中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹NEC电子有限公司,未经上海华虹NEC电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710094413.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top