[发明专利]测试仪对多个芯片测试时芯片内用户码下载方法

说明书

技术领域

本发明属于半导体生产测试技术领域，涉及集成电路的后道测试，特别涉及一种测试仪对多个芯片测试时芯片内用户码下载方法。 

背景技术

待测试芯片内有存储单元，测试仪通常包括测试控制单元、硬盘、寄存器、算法图形发生器(ALPG)、序列图形发生器(SQPG)、数字波形发生器，数字波形发生器位于测试仪模拟测试单元中，通常用于进行模拟测试。如图1所示，测试仪在同时对多个芯片测试时，用户一般要求每个芯片的存储单元里的用户码都不同，在进行用户码的数据下载时，现有的方法是要先从测试仪的硬盘中读出文件中的用户码数据传给测试仪的寄存器，再将寄存器中的用户码传入ALPG，然后通过运行ALPG pattern(算法图形发生器的测试向量)，通过多个的芯片测试通道将用户码写入相应的待测芯片的存储单元。但是由于测试仪的寄存器的位数限制，一次一般最多只能传64比特，会消耗大量的测试时间。 

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种测试仪同时对多个芯片测试时芯片内用户码下载方法，采用该方法使不同用户码数据能针对每个芯片做到快速的下载。 

为解决上述技术问题，本发明的测试仪对多个芯片测试时芯片内用户 码下载方法采用的技术方案是，测试仪包括测试控制单元、硬盘、序列图形发生器、数字波形发生器，其特征在于，包括以下步骤： 

(1).建立一个数组对应各枚芯片的用户码的数据文件号； 

(2).读取数组，决定调用哪个数据文件； 

(3).将所述数据文件转换成2进制格式并存到数字波形发生器中； 

(4).设定数字波形发生器与多个芯片测试通道的链接，所述数字波形发生器是个多比特的存储器，将不同芯片的测试通道链接到数字波形发生器的不同比特位； 

(5).通过调用序列图形发生器测试向量将数字波形发生器中的数据根据芯片的存储单元的写命令格式写入到各个相应的待测芯片的存储单元中。 

本发明的测试仪对多个芯片测试时芯片内用户码下载方法，将需要下载的数据先作为数组文件读入到测试仪的数字波形发生器中，此后的每次数据写入只要直接从数字波形发生器中调用即可，即只需每次装入wafer(晶圆)的时候读一次数据并转好格式存到数字波形发生器中即可，通过对测试仪模拟测试单元硬件的独特运用让测试仪能更快的对芯片中的存储单元写入任意数据，加快了多芯片同时测试时不同用户码数据的下载的速度。 

附图说明

下面结合附图及具体实施方式对本发明作进一步详细说明。 

图1是通常的测试仪对多个芯片测试时芯片内用户码下载方法示意 图； 

图2是本发明的测试仪对多个芯片测试时芯片内用户码下载方法一 

实施方式示意图。 

具体实施方式

本发明的测试仪对多个芯片测试时芯片内用户码下载方法的一实施方式如图2所示，包括以下步骤： 

1.在测试仪的测试控制单元的存储器中建立1个数组A，对应各枚芯片的用户码在测试仪硬盘中的数据文件号； 

2.在每次测试时，读取数组A，决定调用哪个数据文件； 

3.将此数据文件中的数据进行格式转换并存到数字波形发生器中。数据文件一般是16进制的数，而数字波形发生器只能接受2进制格式的数据。因此要将此数据文件转换成2进制格式，然后再对应到数字波形发生器的每个比特上。 

4.设定数字波形发生器与多个芯片测试通道的link(链接)，数字波形发生器是个多比特的存储器，将不同芯片的测试通道链接到数字波形发生器的不同比特位。 

5.再通过调用SQPG pattern(序列图形发生器测试向量)将数字波形发生器中的数据根据芯片的存储单元的写命令格式写入到各个相应的待测芯片的存储单元中。 

本发明首先将用户需要下载的文件放到测试仪的硬盘内，然后通过程序控制将此文件读入到某个数组中，然后将测试仪中用于模拟测试的数字波形发生器作为一个中间存储器，把数组中的数据存入数字波形发生器 中，再通过SQPG pattern调用数字波形发生器中的代码数据并写到待测芯片的存储单元中。