[发明专利]用于芯片测试的探针卡及其测试方法有效
| 申请号： | 200710094363.6 | 申请日： | 2007-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN101452010A | 公开（公告）日： | 2009-06-10 |
| 发明（设计）人： | 武建宏 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/317;G01R31/3177 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周 赤 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于芯片测试的探针卡；包括逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口；逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口分别通过共用测试通道与探针相连，逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口之间连有测试通信通道。本发明同时还提供了一种上述探针卡的测试方法，能够对逻辑测试与存储器测试进行切换和控制。因为本发明将逻辑测试仪与存储器测试仪的接口同时设置在一个探测卡上，且在两接口内部又设置了共用测试通道和测试通信通道，实现对原来需要多平台测试的项目可以在一次扎针的情况下完成测试。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 芯片 测试 探针 及其 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用于芯片测试的探针卡；其特征在于，包括逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口；所述的逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口分别通过共用测试通道与探针相连，所述的逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口之间连有测试通信通道。
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