[发明专利]自动化测量发光二极管的测试设备及方法有效
| 申请号： | 200710085775.3 | 申请日： | 2007-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN101266276A | 公开（公告）日： | 2008-09-17 |
| 发明（设计）人： | 李昌;李文凯 | 申请（专利权）人： | 纬创资通股份有限公司;纬创资通(昆山)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 王志森;黄小临 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明为一种自动化测量一发光二极管的测试设备及方法。本发明的自动化测试设备包括一测试治具、一待测物设置处、一测量装置与一电源供应装置。测试治具包括感光组件。待测物设置处用来设置要测的发光二极管，并且待测物设置处与该电源供应装置电性连接，以提供该发光二极管一固定电压。测量装置用以自动测测量试治具中感光组件的特性变化，并藉以判断该发光二极管的功能是否正常。 | ||
| 搜索关键词： | 自动化 测量 发光二极管 测试 设备 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种自动化测试设备，用于测量一发光二极管，该自动化测试设备包括：一待测物设置处，用以设置该发光二极管；一测试治具，包括一光敏电阻；以及一电源供应装置，与该待测物设置处电性地连接，以提供该发光二极管一固定电压；该测试治具利用该光敏电阻测量该发光二极管的亮度。
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