[发明专利]金属导线、电极及薄膜晶体管阵列基板的制造方法有效

专利信息
申请号: 200710063235.5 申请日: 2007-01-04
公开(公告)号: CN101000871A 公开(公告)日: 2007-07-18
发明(设计)人: 龙春平;李欣欣 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L21/28 分类号: H01L21/28;H01L21/768
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 代理人: 刘芳
地址: 100016*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种金属栅线和栅电极的制造方法,包括:提供一基板;在基板上形成一层光刻胶,其图案和栅线以及栅电极的形状互补;在基板和光刻胶上,溅射形成一层铜金属薄膜或包含铜金属的复合薄膜;在剥离液里浸泡基板,去除光刻胶及其上形成的一层铜金属薄膜或包含铜金属的复合薄膜,形成铜金属栅线和栅电极或包含铜金属的复合薄膜结构的栅线和栅电极。本发明同时也公开了一种金属数据线和源、漏电极的制造方法,以及用金属栅线和栅电极、或/和数据线和源、漏电极的制造方法形成薄膜晶体管阵列基板的制造方法。本发明提供的方法,不使用刻蚀液进行金属导线和电极的腐蚀,通过剥离工艺直接形成铜金属导线和电极,能降低开发成本。
搜索关键词: 金属 导线 电极 薄膜晶体管 阵列 制造 方法
【主权项】:
1、一种金属栅线和栅电极的制造方法,其特征在于,包括:步骤1,提供一基板;步骤2,在所述基板上形成一层光刻胶,其图案与栅线以及栅电极的形状互补;步骤3,在完成步骤2的基板上,溅射形成一层铜金属薄膜或包含铜金属的复合薄膜;步骤4,将完成步骤3的基板在剥离液里浸泡,去除所述光刻胶及其上形成的一层铜金属薄膜或包含铜金属的复合薄膜,形成铜金属的栅线和栅电极或包含铜金属的复合薄膜结构的栅线和栅电极。
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