[发明专利]误码测试装置有效
| 申请号： | 200710003117.5 | 申请日： | 2007-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN101141227A | 公开（公告）日： | 2008-03-12 |
| 发明（设计）人： | 毕红军;杜晓岗 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L1/00 | 分类号： | H04L1/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 李伟;吴孟秋 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种采用可编程逻辑器件实现的误码测试装置。该装置包括：处理器接口模块，用于与外部处理器进行连接；时钟生成模块，用于根据处理器接口模块的指令提供运行时钟；以及误码处理模块，用于对待测系统或设备进行误码分析，并将分析结果上报给外部处理器。本发明采用可编程逻辑器件来实现误码分析功能，所以实现电路简单、成本较低，同时误码分析、处理功能可以根据用户需求灵活定制，可扩展性好。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种误码测试装置，其特征在于，采用可编程逻辑器件实现，包括：处理器接口模块，用于与外部处理器进行连接；时钟生成模块，用于根据所述处理器接口模块的指令提供运行时钟，并将运行时钟提供给误码处理模块；以及所述误码处理模块，用于对待测系统或设备进行误码分析，并将分析结果上报给所述外部处理器。
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