[发明专利]失真测量设备,方法,程序,和记录介质无效
| 申请号： | 200710001332.1 | 申请日： | 2007-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN101000275A | 公开（公告）日： | 2007-07-18 |
| 发明（设计）人： | 浮田润一 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01M11/02;G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 许静 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供了一种失真测量设备，包括记录布里渊散射光的光谱的布里渊散射光光谱记录单元，所述布里渊散射光是作为提供入射光的结果在光纤中生成的；峰值频率近似单元，获取布里渊散射光的光谱取最大值的近似的峰值频率；峰值频率推导单元，推导光谱在一频率范围内取最大值的峰值频率，所述频率范围是基于近似的峰值频率处光谱的幅度获得的；以及失真推导单元，基于推导的峰值频率推导光纤的失真。 | ||
| 搜索关键词： | 失真 测量 设备 方法 程序 记录 介质 | ||
【主权项】：
1.一种失真测量设备，包括：峰值频率近似单元，获取布里渊散射光的光谱取最大值的近似的峰值频率，所述布里渊散射光的光谱是通过为被测试的器件提供入射光而生成的；峰值频率推导单元，推导光谱在基于近似的峰值频率处光谱的幅度获得的频率范围内取最大值的峰值频率；以及失真推导单元，基于推导的峰值频率推导被测试的器件的失真。
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