[发明专利]光学测量装置有效
| 申请号： | 200680038368.0 | 申请日： | 2006-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN101287974A | 公开（公告）日： | 2008-10-15 |
| 发明（设计）人： | 大久保和明 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01J1/02 | 分类号： | G01J1/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汪惠民 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学测量装置，具备：平面镜(3)，其具有作为光入射窗或光源安装部(5)之功能的中央开口部、和可以由光检测器(6)进行测量的观测窗(6’)；和积分半球(2)，其在平面镜(3)的中央开口部内具有曲率半径的中心，且内壁面具有光漫反射面(1)的功能，平面镜(3)和积分半球(2)在内部形成积分空间。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 装置 | ||
【主权项】：
1、一种光学测量装置，具备：平面镜，其具有作为光入射窗或光源安装部之功能的中央开口部、和可以由光检测器进行测量的观测窗；和半球，其在所述平面镜的所述中央开口部内具有曲率半径的中心，且内壁面具有光漫反射面的功能，所述平面镜和所述半球在内部形成积分空间。
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