[发明专利]光学测量装置有效

专利信息
申请号: 200680038368.0 申请日: 2006-04-12
公开(公告)号: CN101287974A 公开(公告)日: 2008-10-15
发明(设计)人: 大久保和明 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G01J1/02 分类号: G01J1/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 测量 装置
【权利要求书】:

1、一种光学测量装置,具备:

平面镜,其具有作为光入射窗或光源安装部之功能的中央开口部、和可以由光检测器进行测量的观测窗;和

半球,其在所述平面镜的所述中央开口部内具有曲率半径的中心,且内壁面具有光漫反射面的功能,

所述平面镜和所述半球在内部形成积分空间。

2、如权利要求1所述的光学测量装置,其中,所述光检测器被安装于平面镜的观测窗。

3、如权利要求1所述的光学测量装置,其中,在安装于所述中央开口部的光源相对于所述平面镜向积分空间内突出Lh的距离的情况下,当从所述中央开口部的中心至所述观测窗的中心的距离设为L、所述观测窗的半径设为R1、所述光检测器的受光面的半径设为R2时,所述光检测器设置于所述观测窗的后方Ld的位置,且满足

Ld>Lh(R1+R2)/(L-R1)的条件。

4、如权利要求1所述的光学测量装置,其中,在所述积分空间内没有配置遮光部。

5、如权利要求1所述的光学测量装置,其中,所述光检测器为亮度计。

6、如权利要求5所述的光学测量装置,其中,所述观测窗和所述中央开口部的距离为所述半球的曲率半径的65%以上。

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