[发明专利]利用阴影掩膜进行电子器件制造的方法和设备有效

专利信息
申请号: 200680035042.2 申请日: 2006-09-26
公开(公告)号: CN101273444A 公开(公告)日: 2008-09-24
发明(设计)人: 托马斯·P·布罗迪 申请(专利权)人: 阿德文泰克全球有限公司
主分类号: H01L21/425 分类号: H01L21/425
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 陈源;张天舒
地址: 英属维尔京*** 国省代码: 维尔京群岛;VG
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摘要: 电子器件被形成在通过多个沉积容器逐渐形成的衬底上。每一个沉积容器都包括沉积材料源,并至少具有两个与之相关的阴影掩膜。这两个掩膜中的每一个交替地定位在对应沉积容器内,以通过在掩膜定位中的孔,将沉积材料图案成形到衬底上,并定位在邻近的清洗容器中以清洗掩膜。在衬底上的图案成形和至少一个掩膜的清洗是同时执行的。
搜索关键词: 利用 阴影 进行 电子器件 制造 方法 设备
【主权项】:
1.一种形成电子器件的方法,包括步骤:(a)连续地推进衬底通过沿制造路径定位的多个真空沉积容器,其中,每个沉积容器包括:(i)包含沉积材料的材料沉积源,(ii)定位在沉积容器中的第一阴影掩膜,该第一阴影掩膜具有穿透其中的预定窗孔图案,(iii)邻近沉积容器定位的第一清洗容器,以及(iv)邻近沉积容器定位的第二清洗容器,其中:第一清洗容器、沉积容器和第二清洗容器限定了清洗路径,该清洗路径横向于制造路径;第二阴影掩膜定位在第二清洗容器中,第二阴影掩膜具有穿透其中的预定窗孔图案;第一清洗容器在其中接收到第一阴影掩膜时,可操作地用于清洗第一阴影掩膜;第二清洗容器在其中接收到第二阴影掩膜时,可操作地用于清洗第二阴影掩膜;(b)清洗定位于第二清洗容器中的第二阴影掩膜,同时,通过第一阴影掩膜的窗孔的预定图案沉积材料沉积在衬底上;(c)沿清洗路径,将第一阴影掩膜从沉积容器移动至第一清洗容器,并沿清洗路径,将第二阴影掩膜从第二清洗容器移动至沉积容器;以及(d)清洗定位在第一清洗容器中的第一阴影掩膜,同时,通过第二阴影掩膜的窗孔的预定图案将沉积材料沉积在衬底上。
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