[发明专利]利用阴影掩膜进行电子器件制造的方法和设备有效
申请号: | 200680035042.2 | 申请日: | 2006-09-26 |
公开(公告)号: | CN101273444A | 公开(公告)日: | 2008-09-24 |
发明(设计)人: | 托马斯·P·布罗迪 | 申请(专利权)人: | 阿德文泰克全球有限公司 |
主分类号: | H01L21/425 | 分类号: | H01L21/425 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈源;张天舒 |
地址: | 英属维尔京*** | 国省代码: | 维尔京群岛;VG |
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摘要: | 电子器件被形成在通过多个沉积容器逐渐形成的衬底上。每一个沉积容器都包括沉积材料源,并至少具有两个与之相关的阴影掩膜。这两个掩膜中的每一个交替地定位在对应沉积容器内,以通过在掩膜定位中的孔,将沉积材料图案成形到衬底上,并定位在邻近的清洗容器中以清洗掩膜。在衬底上的图案成形和至少一个掩膜的清洗是同时执行的。 | ||
搜索关键词: | 利用 阴影 进行 电子器件 制造 方法 设备 | ||
【主权项】:
1.一种形成电子器件的方法,包括步骤:(a)连续地推进衬底通过沿制造路径定位的多个真空沉积容器,其中,每个沉积容器包括:(i)包含沉积材料的材料沉积源,(ii)定位在沉积容器中的第一阴影掩膜,该第一阴影掩膜具有穿透其中的预定窗孔图案,(iii)邻近沉积容器定位的第一清洗容器,以及(iv)邻近沉积容器定位的第二清洗容器,其中:第一清洗容器、沉积容器和第二清洗容器限定了清洗路径,该清洗路径横向于制造路径;第二阴影掩膜定位在第二清洗容器中,第二阴影掩膜具有穿透其中的预定窗孔图案;第一清洗容器在其中接收到第一阴影掩膜时,可操作地用于清洗第一阴影掩膜;第二清洗容器在其中接收到第二阴影掩膜时,可操作地用于清洗第二阴影掩膜;(b)清洗定位于第二清洗容器中的第二阴影掩膜,同时,通过第一阴影掩膜的窗孔的预定图案沉积材料沉积在衬底上;(c)沿清洗路径,将第一阴影掩膜从沉积容器移动至第一清洗容器,并沿清洗路径,将第二阴影掩膜从第二清洗容器移动至沉积容器;以及(d)清洗定位在第一清洗容器中的第一阴影掩膜,同时,通过第二阴影掩膜的窗孔的预定图案将沉积材料沉积在衬底上。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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