[发明专利]应变评价装置及应变评价方法无效

专利信息
申请号: 200680031261.3 申请日: 2006-07-11
公开(公告)号: CN101253385A 公开(公告)日: 2008-08-27
发明(设计)人: 大上诚司;胜间秀人;舘洋一;池田光太郎;中作信哉 申请(专利权)人: 大发工业株式会社
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;G01B11/25
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 曾祥夌;刘宗杰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供可定量地评价被测定面上的应变的应变评价装置。根据被测定面的三维测量数据进行应变评价的应变评价装置40设有:将表示被测定面的凹凸的截面的二维测量数据二次微分而求出截面的曲率数据的二次微分单元41;根据偏离基准值的上限值和下限值的范围设定关于曲率数据的设定容许范围的容许范围设定单元43;以及将曲率数据中超出设定容许范围的数据作为表示截面上的应变的应变数据抽出的应变数据抽出单元42。
搜索关键词: 应变 评价 装置 方法
【主权项】:
1.一种根据被测定面的三维测量数据进行应变评价的应变评价装置,设有:将表示所述被测定面的凹凸的截面的二维测量数据二次微分并求出所述截面的曲率数据的二次微分单元;根据偏离基准值的上限值及下限值的范围来设定关于所述曲率数据的设定容许范围的容许范围设定单元;以及将所述曲率数据中超出所述设定容许范围的数据作为表示所述截面上的应变的应变数据而抽出的应变数据抽出单元。
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