[发明专利]在光存储介质上进行记录时用于聚焦管理的方法和设备无效
| 申请号： | 200680002306.4 | 申请日： | 2006-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN101103399A | 公开（公告）日： | 2008-01-09 |
| 发明（设计）人： | T·P·范恩德特 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/09 | 分类号： | G11B7/09 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 李静岚;谭祐祥 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定第一聚焦偏移参数值的方法和参数确定单元(100)。确定用于向多层存储介质(114)写入内容数据的这个参数值的方法包括下列步骤：利用不同的、估计的第一聚焦偏移参数值写入测试数据序列(步骤206)，读出该测试数据序列(步骤206)，确定该读出的测试数据序列的至少一个数据偏差量度值(步骤206)，以及根据所确定的至少一个数据偏差量度值来确定第一聚焦偏移参数值(步骤210，222)，使得内容数据的读出的块错误率得以最小化，其中在使用确定的第一聚焦偏移参数值时内容数据被写入多层存储介质(114)，并且在使用确定的第二聚焦偏移参数值时，内容数据从多层便携存储介质(114)读出。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 介质 进行 记录 用于 聚焦 管理 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种根据已确定的用于读取的第二聚焦偏移参数值来确定用于将内容数据写入到多层存储介质(114)中的第一聚焦偏移参数值的方法，所述方法包括下列步骤：利用不同的、估计的第一聚焦偏移参数值写入测试数据序列(步骤206)，利用所述已确定的第二聚焦偏移参数值读出所述测试数据序列(步骤206)，确定对于至少一些所述估计的第一聚焦偏移参数值的所读出的测试数据序列的至少一个数据偏差量度值(步骤206)，以及根据所确定的至少一个数据偏差量度值来确定所述第一聚焦偏移参数值(步骤210，222)，使得内容数据的读出的块错误率得以最小化，其中在使用所述确定的第一聚焦偏移参数值时所述内容数据被写入多层存储介质(114)，并且在使用所述已确定的第二聚焦偏移参数值时从多层存储介质中(114)读出所述内容数据。
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