[发明专利]在光存储介质上进行记录时用于聚焦管理的方法和设备无效

专利信息
申请号: 200680002306.4 申请日: 2006-01-06
公开(公告)号: CN101103399A 公开(公告)日: 2008-01-09
发明(设计)人: T·P·范恩德特 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 李静岚;谭祐祥
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 存储 介质 进行 记录 用于 聚焦 管理 方法 设备
【说明书】:

技术领域

本发明涉及在可记录双层存储介质上记录时对记录光束的聚焦(focusing)进行最优化。本发明特别有利于在便携式光存储介质上进行记录时的聚焦管理。

背景技术

为了满足近来游戏产业和其它产业提高数据传输速率性能的需求,光盘(作为便携式存储介质的一个实例)的旋转速度一直在增加。然而,由于增加这种旋转速度,例如与以增加的旋转速度旋转的光盘相关的错误容限减少了。由于错误容限减小了,人们研发了多种方法和手段来提供和保证改进后的性能。

美国专利5,561,645A公开了一种用于聚焦记录光束在记录介质上的方法和装置。该装置包括在垂直于记录介质的方向上移动光学头的移动单元,以便改变光学头所辐照的记录光束的聚焦位置。所述方法包括这些步骤:检测用于产生聚焦错误信号的反射光,在若干试验聚焦位置产生标记效率信号,确定对应于聚焦(in-focus)位置的标记效率信号,确定相关联的聚焦错误信号的偏移值,并且,在记录过程中,调整可移动的聚焦单元的位置,使得聚焦错误信号值保持在该偏移值。所述标记效率信号是取决于多个光电检测器的相对照度的量度(measure)。

上述文献公开了基于在记录期间确定的反射光来改变记录光束的聚焦位置。然而,对于用户而言,在读写期间在数据的块错误率或位错误率方面的性能是很重要的。可以看出,美国专利5,561,645A不包括根据任何这种数据错误率量度来改变记录光的聚焦位置的步骤。

因此需要提供一种改进的聚焦管理,特别是在读取和写入双层存储介质期间的聚焦管理。

本发明涉及确定用于在可记录多层(包括双层)便携式存储介质上进行记录的最优化聚焦。

针对多层存储介质中的其中每一个数据层,通过将数据写入到存储介质以及从存储介质读出数据分别聚焦来实现上述目的。

发明内容

本发明的第一目的是确定对写入数据到多层存储介质和从多层存储介质读取数据分开聚焦。根据本发明的第一方面,该目的通过一种方法得以实现,这种方法根据已确定的用于读取的第二聚焦偏移参数值,来确定用于将内容数据写入到多层存储介质中的第一聚焦偏移参数值,该方法包括下列步骤:利用不同的、估计的第一聚焦偏移参数值写入测试数据序列;利用确定的第二聚焦偏移参数值读出所述测试数据序列;确定读取的对于至少一些所述估计的第一聚焦偏移参数值的测试数据序列的至少一个数据偏差量度值;以及根据所确定的至少一个数据偏差量度值来确定第一聚焦偏移参数值,使得内容数据的读出的块错误率(block error rate)得以最小化,所述内容数据在利用确定的第一聚焦偏移参数值时被写入多层存储介质,在利用确定的第二聚焦偏移参数值时从多层存储介质中读出所述内容数据。

本发明的第二目的是提供一种单元,用于确定对写入数据到多层存储介质和从多层存储介质读取数据分开聚焦。根据本发明的第二方面,这个目标通过第一聚焦偏移参数值确定单元得以实现,该单元用于根据确定的第二聚焦偏移参数值来确定用于将数据写入到多层存储介质的第一聚焦偏移参数值,所述第一聚焦偏移参数值确定单元包括:数据写入单元,设置成利用不同的、估计的第一聚焦偏移参数值向存储介质写入测试数据序列;数据读取单元,设置成利用第二聚焦偏移参数值从存储介质读取测试数据序列;第一数据偏差量度确定单元,设置成确定读取的对于至少一些所述估计的第一聚焦偏移参数值的测试数据序列的第一数据偏差量度值;控制单元,其连接到数据写入单元、另外的数据写入单元、和第一数据偏差量度确定单元,所述控制单元设置成控制:利用不同的、估计的第一聚焦偏移参数值写入测试数据序列,利用第二聚焦偏移参数值读取测试数据序列,确定读取的对于至少一些所述估计的第一聚焦偏移参数值的测试数据序列的至少一个数据偏差量度值,以及根据所确定的至少一个数据偏差量度值来确定第一聚焦偏移参数值,使得读出的内容数据的块错误率得以最小化,在利用确定的第一聚焦偏移参数值时所述数据内容被写入多层存储介质,并在利用确定的第二聚焦偏移参数值时从多层存储介质中读出所述数据内容。

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