[实用新型]晶片盒的晶片固定机构检测装置无效

专利信息
申请号: 200620121333.0 申请日: 2006-06-26
公开(公告)号: CN200989773Y 公开(公告)日: 2007-12-12
发明(设计)人: 陈辰昌 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01R31/00;H01L21/66
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种晶片盒的晶片固定机构检测装置,是由放晶片用的检测台、晶片盒规格判别器、位置感测器组与控制电路组成。晶片盒规格判别器对应于待检测的晶片盒的一个判定区域设置,并依据从判定区域所得到的结果输出一个判定信号。每一位置感测器组则用来检测一种规格的晶片盒,且各位置感测器组包括光源发射端与光源接收端,其中光源发射与接收端是相对于晶片盒的一个晶片固定机构的位置配置,以检测其是否正常。控制电路是用以接收由晶片盒规格判别器输出的判定信号来选择一组位置感测器组来进行晶片固定机构的位置的检测。
搜索关键词: 晶片 固定 机构 检测 装置
【主权项】:
1.一种晶片盒的晶片固定机构检测装置,其特征在于,适于检测不同规格的晶片盒,包括:检测台,用以放置待检测的晶片盒;晶片盒规格判别器,对应于该待检测的晶片盒的判定区域设置,并依据从该判定区域所得到的结果输出判定信号;多个位置感测器组,分别用来检测至少一种规格的晶片盒,且各该位置感测器组包括光源发射端与光源接收端,其中该光源发射端与该光源接收端相对于该待检测的晶片盒的晶片固定机构的位置配置,以检测该晶片固定机构的位置是否正常;以及控制电路,用以接收由该晶片盒规格判别器输出的该判定信号,并依照该判定信号选择该些位置感测器组中的一组来进行该晶片固定机构的位置的检测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联华电子股份有限公司,未经联华电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200620121333.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top