[发明专利]具有元件布局检查功能的抓取式设备无效
| 申请号： | 200610164662.8 | 申请日： | 2002-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN1968597A | 公开（公告）日： | 2007-05-23 |
| 发明（设计）人： | 戴维·W·杜基特;保罗·R·豪根;戴维·菲什拜因;斯科特·D·罗思;托马斯·W·布什曼;约翰·D·加意达;戴维·D·马德森;西奥多·保罗·戴尔;托德·D·利伯蒂;布兰特·O·布希卡 | 申请（专利权）人： | 赛博光学公司 |
| 主分类号： | H05K13/08 | 分类号： | H05K13/08;H05K13/04;H05K13/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 陈瑞丰 |
| 地址： | 美国明*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 由抓取式设备(301)实行改进的元件布局检查和确认。这些改进包括：预期元件布局位置的立体成像；强化照明，以促进在置放管嘴(208，210，212)附近的有限空间内提供相当高功率的照明；光学装置(380)使图像获取设备(300，302)能够从相对于放置位置平面成一定角度观察放置位置(360)；利用以商业上适用的CCD阵列快速获取图像的技术，使放置前和放置后图像的获取不致明显影响整个系统；图像处理技术可以提供元件检查和确认的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 元件 布局 检查 功能 抓取 设备 | ||
【主权项】：
1.一种获取抓取式设备中多个图像的方法，其中，所述方法包括如下步骤：复位光敏阵列的像素；获取关于像素的第一图像；将第一图像传送到阵列的非光敏区；复位光敏阵列的像素，以清除第一图像；和产生受控的曝光，以便在从阵列的非光敏区完整读出第一图像之前获取第二图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于赛博光学公司，未经赛博光学公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610164662.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
