[发明专利]双模手机中排除其他制式发射影响的接入试探发射方法无效

专利信息
申请号: 200610162278.4 申请日: 2006-12-19
公开(公告)号: CN101207858A 公开(公告)日: 2008-06-25
发明(设计)人: 徐耀云;吴建响 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04Q7/32 分类号: H04Q7/32;H04B17/00;H04B7/005
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 龙洪;霍育栋
地址: 518057广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提出了一种双模手机中排除其他制式发射影响的接入试探发射方法,包括以下步骤:(1)双模手机在准备制式一的接入试探时,制式一模块实时获取处于发射状态的制式二模块的发射信道所在频段范围,确定制式二到制式一的泄漏功率;(2)制式一模块测量整个频段内接收到的前向链路总功率,并根据制式一标准计算平均输出功率;(3)用计算的平均输出功率减去制式二泄漏到制式一的功率,得到最终的平均发射功率。
搜索关键词: 双模 手机 排除 其他 制式 发射 影响 接入 试探 方法
【主权项】:
1.双模手机中排除其他制式发射影响的接入试探发射方法,包括以下步骤:(1)双模手机在准备制式一的接入试探时,制式一模块实时获取处于发射状态的制式二模块的发射信道所在频段范围,确定制式二到制式一的泄漏功率;(2)制式一模块测量整个频段内接收到的前向链路总功率,并根据制式一标准计算平均输出功率;(3)用计算的平均输出功率减去制式二泄漏到制式一的功率,得到最终的平均发射功率。
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