[发明专利]偏振光膜检查装置及方法无效

专利信息
申请号: 200610161885.9 申请日: 2006-12-05
公开(公告)号: CN1979262A 公开(公告)日: 2007-06-13
发明(设计)人: 张珉硕 申请(专利权)人: 恩富技术株式会社
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G01N21/88
代理公司: 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 代理人: 余朦;方挺
地址: 韩国忠清*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及在检查适用于LCD的偏振光膜的瑕疵时可以提高作业生产率的偏振光膜检查装置及方法。本发明偏振光膜检查装置包括:第一检查部(30),设置在主机架(1)上、并对由载体(2)保持并移送的偏振光膜(3)的瑕疵进行检查;第二检查部(40),以与第一检查部邻接的方式设置在主机架上、并对载体上保持并移送的偏振光膜的瑕疵进行检查;第一膜移送器(20),以位于第一和第二检查部一侧的方式设置在主机架上、并使通过洗涤部(10)洗涤后排列的偏振光膜选择性地装载到第一和第二检查部;第二膜移送器(50),以位于第一和第二检查部另一侧的方式设置在主机架上、并将第一和第二检查部检查结束的偏振光膜卸载到拣选部(60)。
搜索关键词: 偏振光 检查 装置 方法
【主权项】:
1.偏振光膜检查装置,其特征在于,所述装置包括:第一检查部,设置在主机架上、并对由载体保持并移送的偏振光膜有无瑕疵进行检查;第二检查部,以与第一检查部并排的方式设置在主机架上、并检查由载体保持并移送的偏振光膜有无瑕疵;第一膜移送器,以位于第一检查部和第二检查部一侧的方式设置在主机架上、并将通过洗涤部洗涤后排列的偏振光膜选择性地装载到第一检查部和第二检查部;第二膜移送器,以位于第一检查部和第二检查部另一侧的方式设置在主机架上、并将第一检查部和第二检查部检查结束的偏振光膜卸载到拣选部。
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