[发明专利]集成电路测试装置

摘要

本发明提供一种集成电路测试装置。待测集成电路接收输入信号，并根据输入信号的第一脉冲宽度而选择于第一输出端以及第二输出端其中之一输出一输出信号，以及根据第一脉冲宽度与第二脉冲宽度的差异而产生误差信号。测试机台根据输出信号以及误差信号以产生待测集成电路的输入信号。本发明所述的集成电路测试装置，较传统的量测方式大幅减少测试的时间，可以更精准地得知死带区范围及死带区间隔，即可准确侦测到第一状态与死带状态以及第二状态与死带状态的交界点。

主权项

1.一种集成电路测试装置，其特征在于，该集成电路测试装置包括：一待测集成电路，用以接收一输入信号，并根据上述输入信号的一第一脉冲宽度而选择于一第一输出端以及一第二输出端其中之一输出一输出信号，以及根据上述第一脉冲宽度与一第二脉冲宽度的差异而产生一误差信号；以及一测试机台，用以根据上述输出信号以及上述误差信号产生上述输入信号。