[发明专利]液晶显示器的光学参数测量装置及方法无效
| 申请号： | 200610144638.8 | 申请日： | 2006-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN101178488A | 公开（公告）日： | 2008-05-14 |
| 发明（设计）人： | 罗克强;蔡荣展 | 申请（专利权）人： | 华生科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人： | 潘培坤 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种液晶显示器的光学参数测量装置及方法，当液晶显示器放置在两个偏光板之间所测量的透过率光谱是第一透过率光谱I，当该液晶显示器放置在该两个偏光板之后所测量的透过率光谱是第二透过率光谱II，以第一透过率光谱除以第二透过率光谱(I/II)作为Yeh & Gu方程式所需的透过率光谱。采用本发明的装置和方法可快速同时求得液晶显示器的液晶旋转角度、入射配向角、出射配向角、视角方向、各波长的Δnd值等光学参数。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶显示器 光学 参数 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种液晶显示器的光学参数测量装置，其包含：一分光光度计，其具有一光源及一用于检测光线相关光学参数的检测器，用于测量该液晶显示器的相关光学参数；以及一测量模块，其具有两个偏光板，当该液晶显示器放置在所述两个偏光板之间所测量的透过率光谱是第一透过率光谱，当该液晶显示器放置在所述两个偏光板之后所测量的透过率光谱是第二透过率光谱，以第一透过率光谱除以第二透过率光谱作为Yeh & Gu方程式所需的透过率光谱。
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