[发明专利]物理信息获取方法、物理信息获取装置和半导体器件有效
申请号: | 200610135758.1 | 申请日: | 2006-07-21 |
公开(公告)号: | CN1971927A | 公开(公告)日: | 2007-05-30 |
发明(设计)人: | 户田淳;佐藤玄太 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H04N5/335;G03B11/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邵亚丽;李晓舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种物理信息获取方法、物理信息获取装置和半导体器件。在摄像装置中,即使不用红外光滤光片,也可排除红外光等不需要的波长区分量的影响。在通过滤光片(C1、C2、C3)将可见光区内进行波长分离从而由各检测部进行检测的同时,通过滤光片(C4)将红外光区域进行波长分离从而由检测部进行检测。通过使用滤光片(C4)检测的信号(SC4),对通过滤光片(C1、C2、C3)检测的信号(SC1、SC2、SC3)进行校正,从而获得与排除了红外光区分量影响的可见光区分量有关的摄像信号。 | ||
搜索关键词: | 物理 信息 获取 方法 装置 半导体器件 | ||
【主权项】:
1、物理信息获取方法,在单位结构元件内含有用于检测电磁波的检测部,及根据由上述检测部所检测的电磁波量而生成对应的单位信号并输出的单位信号生成部,该单位结构元件利用按规定顺序配设于同一衬底上的用于物理量分布检测的装置,基于上述单位信号获取规定目的用的物理信息,其特征在于,对于第1波长区分量,与不同于该第1波长区分量的第2波长区分量事先分离并由第1上述检测部进行检测,同时由第2上述检测部检测至少包含第2波长区的分量的校正用波长区的分量,使用由上述第1检测部所检测的单位信号、由上述第2检测部所检测的单位信号,获取排除了上述第2波长区分量的至少一部分的影响的上述第1波长区分量相关的物理信息。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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