[发明专利]测量液晶器件扭曲角和光延迟的装置和方法

摘要

本发明属于光电子学和测量技术领域，是一种测量液晶器件扭曲角和光延迟的装置和方法。本发明的装置，包括：双频塞曼激光器，λ/4波片，分束器，检偏器，光电探测器，信号处理部分。测试时，以光轴为轴转动被测液晶器件4，当被测液晶器件的转角为0度、60度和180度时，记录信号处理部分9得到的相位差Ψ₁、Ψ₂和Ψ₃，由计算机利用外差式测量方程对Ψ₁、Ψ₂、Ψ₃和0、π/3、2π/3进行曲线拟合，得到被测液晶器件的扭曲角和光延迟数据。由于本发明的拍频信号的频率只有几兆赫兹，光电探测器能够响应信号的频率和相位变化，相对于传统方法测量的易受干扰的光强信号，拍频信号更能避免光源波动或环境影响造成的误差。由交流放大器代替常规的直流放大器，这样可以隔绝由外界干扰引起的直流电平漂移。

主权项

1.一种测量液晶器件扭曲角和光延迟的装置，其特征是由双频塞曼激光器(1)、λ/4波片(2)、分束器(3)、检偏器(5)和(7)、光电探测器(6)和(8)、信号处理部分(9)组成；双频塞曼激光器(1)的输出光轴与λ/4波片(2)的表面互相垂直，双频塞曼激光器(1)的输出光轴与分束器(3)的反射面成45度夹角，在分束器(3)和光电探测器(6)之间依次是被测液晶器件(4)、检偏器(5)，被测液晶器件(4)的表面、检偏器(5)的表面和光电探测器(6)的表面垂直于分束器(3)的透射光，在分束器(3)和光电探测器(8)之间是检偏器(7)，检偏器(7)的表面、光电探测器(8)的表面垂直于分束器(3)的反射光；双频塞曼激光器(1)发出具有频差的左、右旋圆偏振光，λ/4波片(2)使双频塞曼激光器(1)的出射光成为偏振方向互相垂直的双频线偏振光，分束器(3)使光线部分透射，部分反射，检偏器(5)和(7)使双频光的振动方向一致而产生拍频干涉，光电探测器(6)和(8)分别采集拍频信号，并送入信号处理部分(9)，信号处理部分(9)对两路信号作比较，得到两路信号的相位差。