[发明专利]复合式化学机械研磨法与浅沟槽隔离结构的制造方法无效
申请号: | 200610128009.6 | 申请日: | 2006-08-31 |
公开(公告)号: | CN101134286A | 公开(公告)日: | 2008-03-05 |
发明(设计)人: | 陈彦竹;朱辛堃;蔡腾群;陈佳禧 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | B24B1/00 | 分类号: | B24B1/00;B24B29/02;H01L21/304 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种复合式化学机械研磨法,先提供一研磨液,以一第一研磨速度,进行一主研磨步骤。然后,再进行一辅助研磨步骤。其中,辅助研磨步骤是先在一第一时间内,提供研磨液,接着再于一第二时间内,加入一溶剂,并以一第二研磨速度进行研磨,而第二研磨速度小于第一研磨速度。 | ||
搜索关键词: | 复合 化学 机械 研磨 沟槽 隔离 结构 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种复合式化学机械研磨法,适于使结构平坦化,包括:提供研磨液,以第一研磨速度,进行主研磨步骤;以及进行辅助研磨步骤,以使该结构平坦化,其中该辅助研磨步骤包括:首先在第一时间内,提供该研磨液;以及再于第二时间内,加入溶剂,并以第二研磨速度进行研磨,其中该第二研磨速度小于该第一研磨速度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联华电子股份有限公司,未经联华电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610128009.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:曲线型面开关
- 下一篇:一种GSM基站语音业务自动测试装置及其方法