[发明专利]复合式化学机械研磨法与浅沟槽隔离结构的制造方法无效
申请号: | 200610128009.6 | 申请日: | 2006-08-31 |
公开(公告)号: | CN101134286A | 公开(公告)日: | 2008-03-05 |
发明(设计)人: | 陈彦竹;朱辛堃;蔡腾群;陈佳禧 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | B24B1/00 | 分类号: | B24B1/00;B24B29/02;H01L21/304 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 复合 化学 机械 研磨 沟槽 隔离 结构 制造 方法 | ||
1.一种复合式化学机械研磨法,适于使结构平坦化,包括:
提供研磨液,以第一研磨速度,进行主研磨步骤;以及
进行辅助研磨步骤,以使该结构平坦化,其中该辅助研磨步骤包括:
首先在第一时间内,提供该研磨液;以及
再于第二时间内,加入溶剂,并以第二研磨速度进行研磨,
其中该第二研磨速度小于该第一研磨速度。
2.如权利要求1所述的复合式化学机械研磨法,其中该溶剂包括去离子水。
3.如权利要求1所述的复合式化学机械研磨法,其中该第一时间为0至20秒之间。
4.如权利要求1所述的复合式化学机械研磨法,其中该第二时间为2至20秒之间。
5.如权利要求1所述的复合式化学机械研磨法,其中该研磨液包括高选择比研磨液。
6.如权利要求1所述的复合式化学机械研磨法,其中该研磨液包括含氧化铈的溶液。
7.一种浅沟槽隔离结构的制造方法,包括:
提供基底,该基底上已形成有图案化的掩模层,以及于该基底中已形成有至少一沟槽,且该掩模层暴露出该沟槽;
于该基底上方形成介电层填入该沟槽中;
进行主研磨步骤,移除部分该介电层;
进行辅助研磨步骤,移除部分该介电层与部分该掩模层,其中该辅助研磨步骤,包括:
首先在第一时间内,提供研磨液;以及
再于第二时间内,加入溶剂,并以研磨速度进行研磨,且该研磨速度小于该主研磨步骤的研磨速度;以及
移除该掩模层。
8.如权利要求7所述的浅沟槽隔离结构的制造方法,其中该溶剂包括去离子水。
9.如权利要求7所述的浅沟槽隔离结构的制造方法,其中该第一时间为0至20秒之间。
10.如权利要求7所述的浅沟槽隔离结构的制造方法,其中该第二时间为2至20秒之间。
11.如权利要求7所述的浅沟槽隔离结构的制造方法,其中该研磨液包括高选择比研磨液。
12.如权利要求7所述的浅沟槽隔离结构的制造方法,其中该研磨液包括含氧化铈的溶液。
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