[发明专利]集成电路测试系统及方法

摘要

一种适用于影像感测元件的集成电路测试系统，其整合快速DMAI/O Card和PE Card，将影像讯号通过PE Card的PE Channel处理后，由快速DMA I/O Card传送至影像处理个人计算机做运算处理。由于快速DMA I/O Card和现有的个人计算机标准规格模块具有不同的等级，使用者可任意更换不同等级的快速DMA I/O Card及个人计算机，以配合测试不同规格的影像感测元件。此外，只要增加快速DMA I/O Card和影像处理计算机的数量，即可增加平行测试的待测影像感测元件数量，以增加测试的效率。综合上述特性，整体测试的成本将随之降低。

主权项

1.一种集成电路测试系统，其包含：一待测集成电路界面，用以放置或承载一待测集成电路；一测试信号产生模块，连接至该待测集成电路界面；多个测试端脚界面模块，其包含一信号转换模块且均连接至该待测集成电路界面；一数据传输界面模块，连接至该信号转换模块；一数据处理子系统，连接至该数据传输界面模块；一测试主控模块，连接至该测试信号产生模块、该多个测试端脚界面模块、以及该数据处理子系统；其中该测试主控模块于一测试程序中控制该测试信号产生模块以产生测试信号，并经由该待测集成电路界面输入至该待测集成电路；而该信号转换模块将来自该待测集成电路界面的多个数字信号转换为多个特征数字信号，该多个特征数字信号为该待测集成电路的主要测试特性；该测试主控模块并且控制该数据处理子系统以经由该数据传输界面模块将该多个特征数字信号输入至该数据处理子系统；该测试主控模块由该多个测试端脚界面模块和该数据处理子系统传回的测试数据以判定该待测集成电路是否为良品。