[发明专利]集成电路测试系统及方法

说明书

技术领域

本发明有关于一种集成电路的测试系统及方法，特别是关于一种影像感测元件(image sensor)集成电路的测试系统及方法。

背景技术

影像感测元件集成电路是诸如数字相机、数字摄影机、数字监视系统、和附相机行动电话等近来快速成长的电子设备中的主要元件。其负责感测亮度和颜色等光学信号并将光学信号转换为数字系统可处理的电子信号。

影像感测元件主要分为CCD(Charge-Coupled Device，电荷耦合元件)以及CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor，互补式金氧半导体)两种，各适用于不同等级的数字影像处理装置。由于影像分辨率的要求愈来愈精密，影像感测元件输出信号量愈来愈庞大，此等影像感测元件于生产测试时，通常必须使用专用的集成电路测试机，且影像感测元件专用的集成电路测试机的价格较一般性的逻辑测试机昂贵。且原厂要求使用者不得轻易修改或升级待测的影像感测元件，由于使用上受条件所限制，使得测试设备的成本增加。

举例而言，一般影像感测元件专用的集成电路测试机，仅能适用于测试某些特定种类的影像感测元件集成电路。对于不同种类的测试，若使用的影像感测元件专用的集成电路测试机不支持其信号规格的测试，会因不得置换其中的某些模块而无法测试不同的影像感测元件，若测试不同的影像感测元件，则须更换整台测试机，这大大增加了测试的整体成本。

发明内容

鉴于以上关于影像感测元件专用的集成电路测试机缺点，有必要提出一种适用于影像感测元件或类似元件的测试系统，其可以随使用者的需要，轻易地修改或升级以测试不同等级的影像感测元件集成电路。以上和本文以下所谓的类似元件，是指其本身非专用于影像感测的元件，但于正常运作或测试时可能输出大量逻辑信号，而在一般性的逻辑元件集成电路测试机无法测试或测试效率极差的逻辑信号元件或混合信号元件。

本发明的目的之一在于提出一种适用于影像感测元件或其类似元件的测试系统架构，其具有容易修改或升级的特性，以测试不同等级的影像感测元件或类似元件集成电路。

本发明的另一目的在于提出一种适用于影像感测元件或类似元件的测试系统架构，相对于影像感测元件专用的集成电路测试机，其成本较为低廉，配合前述易于修改和升级的特性，其整体成本的下降更是显著。

本发明的另一目的在于提出一种使用上较具弹性且适用于影像感测元件或类似元件的测试系统架构，其可以弹性地扩充平行测试的待测元件数目以增进整体测试效能。

本发明的又一目的在于提出一种使影像感测元件或类似元件中的影像信号或大量产生的信号和其它信号能平行测试的系统架构以增进整体测试效能。

本发明的再一目的在于提出一种将一般的逻辑测试系统升级为符合前述目的的影像感测元件或类似元件测试系统的方法。

根据上述目的，本发明提出一种适用于影像感测元件或类似元件集成电路的测试系统，其技术特征如下：

一种集成电路测试系统，其包含：

一待测集成电路界面，用以放置或承载一待测集成电路；

一测试信号产生模块，连接至该待测集成电路界面；

多个测试端脚界面模块，其包含一信号转换模块，且均连接至该待测集成电路界面；

一数据传输界面模块，连接至该信号转换模块；

一数据处理子系统，连接至该数据传输界面模块；

一测试主控模块，连接至该测试信号产生模块、该多个测试端脚界面模块、以及该数据处理子系统；

其中该测试主控模块于一测试程序中控制该测试信号产生模块以产生测试信号，并经由该待测集成电路界面输入至该待测集成电路；而该信号转换模块将来自该待测集成电路界面的多个数字信号转换为多个特征数字信号，该多个特征数字信号为该待测集成电路的主要测试特性；该测试主控模块并且控制该数据处理子系统，以经由该数据传输界面模块将该多个特征数字信号输入至该数据处理子系统；该测试主控模块由该多个测试端脚界面模块和该数据处理子系统传回的测试数据，以判定该待测集成电路是否为良品。

为达到上述目的，本发明还提出一种上述系统的测试方法，其技术特征如下：

一种将基本逻辑集成电路测试机升级为影像处理元件集成电路测试机的方法，其包含以下步骤：

将待测影像处理元件集成电路与该待测影像处理元件输出一最大分辨率数字影像图框有关的数字信号，连接至一信号转换模块；

该信号转换模块输出的数字信号通过一快速数据传输界面模块连接至一影像处理子系统；