[发明专利]集成电路测试系统及方法

权利要求书

1.一种集成电路测试系统，其包含：

一待测集成电路界面，用以放置或承载一待测集成电路；

一测试信号产生模块，连接至该待测集成电路界面；

多个测试端脚界面模块，其包含一信号转换模块且均连接至该待测集成电路界面；

一数据传输界面模块，连接至该信号转换模块；

一数据处理子系统，连接至该数据传输界面模块；

一测试主控模块，连接至该测试信号产生模块、该多个测试端脚界面模块、以及该数据处理子系统；

其中该测试主控模块于一测试程序中控制该测试信号产生模块以产生测试信号，并经由该待测集成电路界面输入至该待测集成电路；而该信号转换模块将来自该待测集成电路界面的多个数字信号转换为多个特征数字信号，该多个特征数字信号为该待测集成电路的主要测试特性；该测试主控模块并且控制该数据处理子系统以经由该数据传输界面模块将该多个特征数字信号输入至该数据处理子系统；该测试主控模块由该多个测试端脚界面模块和该数据处理子系统传回的测试数据以判定该待测集成电路是否为良品。

2.如权利要求1所述的集成电路测试系统，其中上述的待测集成电路一影像感测元件集成电路。

3.如权利要求2所述的集成电路测试系统，其更包含一光源，该光源连接至该测试主控模块并受该测试主控模块的控制于每一上述的测试程序改变投射至上述影像感测元件集成电路的光学特性。

4.如权利要求3所述的集成电路测试系统，其中上述的来自待测集成电路界面的多个数字信号包含下列之一或其组合：一影像垂直同步信号、一影像水平同步信号、一影像像素时钟脉冲信号、多个影像资料信号。

5.如权利要求4所述的集成电路测试系统，其中上述的多个特征数字信号足以表示上述的影像感测元件集成电路最大分辨率之一数字影像图框。

6.如权利要求4所述的集成电路测试系统，其中上述的多个特征数字信号包含一时钟脉冲信号和多个影像资料信号。

7.如权利要求6所述的集成电路测试系统，其中上述的数据传输界面模块包含一快速DMA I/O模块或一影像撷取卡。

8.一种将基本逻辑集成电路测试机升级为影像处理元件集成电路测试机的方法，其包含以下步骤：

将待测影像处理元件集成电路与该待测影像处理元件输出一最大分辨率数字影像图框有关的数字信号连接至一信号转换模块；

该信号转换模块输出的数字信号通过一快速数据传输界面模块连接至一影像处理子系统；

连接该影像处理子系统至一基本逻辑集成电路测试机的测试主控模块；

连接该测试主控模块至一光源；

其中该测试主控模块于一测试程序中控制该光源的输出以改变该光源投射至该待测影像处理元件的亮度、颜色、或其组合。

9.如权利要求8所述的将基本逻辑集成电路测试机升级为影像处理元件集成电路测试机的方法，其中上述的与该待测影像处理元件输出一最大分辨率数字影像图框有关的数字信号包含：一影像垂直同步信号、一影像水平同步信号、一影像像素时钟脉冲信号和多个影像资料信号。

10.如权利要求8所述的将基本逻辑集成电路测试机升级为影像处理元件集成电路测试机的方法，其中上述的信号转换模块将上述的待测影像处理元件输出一最大分辨率数字影像图框有关的数字信号转换为一时钟脉冲信号和多个影像资料信号。