[发明专利]半导体器件有效

专利信息
申请号: 200610101410.0 申请日: 2000-04-15
公开(公告)号: CN1881610A 公开(公告)日: 2006-12-20
发明(设计)人: 山崎舜平;北角英人;福永健司 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L27/32 分类号: H01L27/32;H01L27/15;H01L29/786
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 刘宗杰
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 根据本发明的一种半导体器件,包括:一p沟道TFT;一n沟道TFT,其中至少有一部分LDD区与栅极叠加,在LDD区和栅极之间夹有第二栅绝缘膜;一存储晶体管,其包括:一源区、一漏区、一沟道区、第一栅绝缘膜、一浮置栅极、第三栅绝缘膜、和一控制栅极,其中,所述p沟道TFT和所述n沟道TFT和所述存储晶体管都设置在同一绝缘体之上,所述p沟道TFT和所述n沟道TFT都设置在一个CMOS电路中,并且,所述存储晶体管的所述漏区叠加在所述的浮置栅极。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
1.一种显示装置,包括:衬底;设在所述衬底之上的电流控制p沟道薄膜晶体管;以及设在所述电流控制p沟道薄膜晶体管之上的电发光层;其中,所述电流控制p沟道薄膜晶体管的沟道区域设在含硅的半导体薄膜中,并且所述半导体薄膜具有{110}平面。
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