[发明专利]一种微流道速度分布的测量装置和测量方法无效
申请号: | 200610089246.6 | 申请日: | 2006-08-11 |
公开(公告)号: | CN101122610A | 公开(公告)日: | 2008-02-13 |
发明(设计)人: | 李战华;郑旭;王绪伟 | 申请(专利权)人: | 中国科学院力学研究所 |
主分类号: | G01P5/20 | 分类号: | G01P5/20;G01P5/00;G01M10/00 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 高存秀 |
地址: | 100080北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种微流道速度分布的测量装置和测量方法。该装置包括:一显微镜;一双脉冲激光器,一光量子检测器;一同步控制器;一处理器。该方法包括如下步骤:1)将各仪器调整至准备工作状态;2)向微流道注入荧光粒子溶液,驱动管道内液体流动;3)调节物镜的垂直位置直到微流道的下底面成像最清晰的位置;4)双脉冲激光照射得到的同一个粒子的两个光斑的间距在20~50像素;5)在双脉冲激光照射下,连续拍摄多帧图像;6)调整物镜焦平面到新的位置再拍摄多帧图像;7)重复步骤6),拍摄不同位置的图像。本发明具有光学探测灵敏度高、流场速度探测空间分辨率高、垂直方向位移调节精度高的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 微流道 速度 分布 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种微流道速度分布的测量装置,包括:一显微镜(10),该显微镜有一物镜(20)和一反射装置(17);其特征在于,还包括:一双脉冲激光器(12),该双脉冲激光器发出的激光经过一光学系统(11)进入所述显微镜(10)的反射装置(17),激光反射进入所述物镜(20)并进入视场;一用于记录物镜(20)所观测的微流道(21)中荧光粒子的光强分布的光量子检测器(13)与所述显微镜(10)配合;一同步控制器(14)分别与所述光量子检测器(13)和双脉冲激光器(12)连接;一处理器(15)分别与所述同步控制器(14)、光量子检测器(13)连接。
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