[发明专利]一种微流道速度分布的测量装置和测量方法无效

专利信息
申请号: 200610089246.6 申请日: 2006-08-11
公开(公告)号: CN101122610A 公开(公告)日: 2008-02-13
发明(设计)人: 李战华;郑旭;王绪伟 申请(专利权)人: 中国科学院力学研究所
主分类号: G01P5/20 分类号: G01P5/20;G01P5/00;G01M10/00
代理公司: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 代理人: 高存秀
地址: 100080北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 微流道 速度 分布 测量 装置 测量方法
【权利要求书】:

1.一种微流道速度分布的测量装置,包括:

一显微镜(10),该显微镜有一物镜(20)和一反射装置(17);其特征在于,还包括:

一双脉冲激光器(12),该双脉冲激光器发出的激光经过一光学系统(11)进入所述显微镜(10)的反射装置(17),激光反射进入所述物镜(20)并进入视场;

一用于记录物镜(20)所观测的微流道(21)中荧光粒子的光强分布的光量子检测器(13)与所述显微镜(10)配合;

一同步控制器(14)分别与所述光量子检测器(13)和双脉冲激光器(12)连接;

一处理器(15)分别与所述同步控制器(14)、光量子检测器(13)连接。

2.根据权利要求1所述微流道速度分布的测量装置,其特征在于,还包括一用于调节所述物镜(20)位置的位移控制器(16)安装在所述物镜(20)上。

3.根据权利要求1所述微流道速度分布的测量装置,其特征在于,所述处理器(15)为一计算机。

4.根据权利要求1、2或3任一项所述微流道速度分布的测量装置,其特征在于,所述光学系统(11)为聚焦透镜和准直透镜。

5.一种根据权利要求1的微流道速度分布的测量方法,包括如下步骤:

1)将各仪器调整至准备工作状态;

2)向微流道注入荧光粒子溶液,驱动管道内液体流动,然后将微管道固定在显微镜工作台上;

3)关闭环境光源,使用连续光观察粒子运动,并通过光量子检测器采集图像;调节物镜的垂直位置直到微流道的下底面成像最清晰的位置;

4)设定光量子探测器曝光时间T,激光双脉冲间隔时间t,且t<T;调整t值,使得光量子检测器捕捉的图像中,双脉冲激光照射得到的同一个粒子的两个光斑的间距在20~50像素;

5)在双脉冲激光照射下,连续拍摄多帧图像;

6)调整物镜焦平面到新的位置,调整激光双脉冲时间间隔t,使用光量子检测器再拍摄多帧图像;

7)重复步骤6),拍摄不同位置的图像。

6.根据权利要求5所述微流道速度分布的测量方法,其特征在于,所述步骤2)中是通过气源驱动管道内液体流动。

7.根据权利要求5或6所述微流道速度分布的测量方法,其特征在于,所述步骤4)中曝光时间为0ms~100ms。

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