[发明专利]自动对准凹入式栅极金氧半导体晶体管元件的制作方法有效

专利信息
申请号: 200610084285.7 申请日: 2006-05-30
公开(公告)号: CN101083229A 公开(公告)日: 2007-12-05
发明(设计)人: 李友弼;林瑄智;何家铭 申请(专利权)人: 南亚科技股份有限公司
主分类号: H01L21/8242 分类号: H01L21/8242;H01L21/336;H01L21/28
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种凹入式栅极MOS晶体管元件的制作方法。首先提供半导体基底,其具有存储器阵列区,其中该半导体基底具有主表面,且在该主表面上形成有垫氧化层以及垫氮化硅层。本发明的特征在于利用形成在沟槽上盖层的侧壁上的对称侧壁子,进行栅极沟槽以及自我对准凹入式栅极晶体管的制作。
搜索关键词: 自动 对准 凹入式 栅极 半导体 晶体管 元件 制作方法
【主权项】:
1.一种自动对准凹入式栅极MOS晶体管元件的制作方法,包含有:提供半导体基底,其中该半导体基底具有主表面;于该半导体基底中形成多个沟槽电容,其中各该多个沟槽电容上皆有沟槽上盖层,凸出该主表面;于该半导体基底上沉积氮化硅层,使其覆盖该沟槽上盖层的上表面以及侧壁;于该氮化硅层上沉积多晶硅层;各向异性蚀刻该多晶硅层,以于该沟槽上盖层的侧壁上形成多晶硅侧壁子;氧化该多晶硅侧壁子,形成硅氧侧壁子;利用该硅氧侧壁子作为蚀刻硬掩模,蚀刻该氮化硅层以及该半导体基底,形成栅极沟槽;于该栅极沟槽的侧壁以及底部上形成栅极介电层;以及于该栅极介电层上形成栅极材料层,并使其填满该栅极沟槽。
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