[发明专利]半导体器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200610082420.4 申请日: 2002-08-30
公开(公告)号: CN1862769A 公开(公告)日: 2006-11-15
发明(设计)人: 佐野泰之;原明人;竹井美智子;佐佐木伸夫 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: H01L21/20 分类号: H01L21/20;H01L21/268;H01L21/336
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 秦晨
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 按照这样一种方式形成一个工作半导体层,使得该无定形硅层形成为具有一个宽区域和一个窄区域,并且该窄区域相对于宽区域位置不对称地连接到该宽区域,并且在作为热保持层的多晶硅层隔着氧化硅层从侧面包住该窄区域的状态下,通过把连续波激光束从宽区域向窄区域扫描,而使该无定形硅层结晶。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种制造薄膜型半导体器件的方法,该半导体器件具有基片和构图形成在该基片上的工作半导体层,其中包括如下步骤:在该基片上形成要作为工作半导体层的一个半导体层;处理该要整形的半导体层,从而它具有宽区域和比所述宽区域窄的窄区域,并且窄区域连接到宽区域,使得该窄区域被设置为相对于宽区域不对称;在处理该半导体层之后,形成窄区域的热保持层,以隔着一个隔离层有选择地覆盖该窄区域的侧面部分;以及在形成热保持层的状态下,通过把能量束沿着窄区域的纵向方向从宽区域向窄区域照射到半导体层上而使该半导体层结晶。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社,未经夏普株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610082420.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top