[发明专利]半导体器件及其制造方法无效
申请号: | 200610082420.4 | 申请日: | 2002-08-30 |
公开(公告)号: | CN1862769A | 公开(公告)日: | 2006-11-15 |
发明(设计)人: | 佐野泰之;原明人;竹井美智子;佐佐木伸夫 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H01L21/20 | 分类号: | H01L21/20;H01L21/268;H01L21/336 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 秦晨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 按照这样一种方式形成一个工作半导体层,使得该无定形硅层形成为具有一个宽区域和一个窄区域,并且该窄区域相对于宽区域位置不对称地连接到该宽区域,并且在作为热保持层的多晶硅层隔着氧化硅层从侧面包住该窄区域的状态下,通过把连续波激光束从宽区域向窄区域扫描,而使该无定形硅层结晶。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制造薄膜型半导体器件的方法,该半导体器件具有基片和构图形成在该基片上的工作半导体层,其中包括如下步骤:在该基片上形成要作为工作半导体层的一个半导体层;处理该要整形的半导体层,从而它具有宽区域和比所述宽区域窄的窄区域,并且窄区域连接到宽区域,使得该窄区域被设置为相对于宽区域不对称;在处理该半导体层之后,形成窄区域的热保持层,以隔着一个隔离层有选择地覆盖该窄区域的侧面部分;以及在形成热保持层的状态下,通过把能量束沿着窄区域的纵向方向从宽区域向窄区域照射到半导体层上而使该半导体层结晶。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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