[发明专利]集成电路无效
申请号: | 200610081927.8 | 申请日: | 2006-05-10 |
公开(公告)号: | CN1877993A | 公开(公告)日: | 2006-12-13 |
发明(设计)人: | 彼特·雷霍茨-哥德曼 | 申请(专利权)人: | 爱特梅尔(德国)有限公司 |
主分类号: | H03K17/042 | 分类号: | H03K17/042;H03K17/16 |
代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 | 代理人: | 郭伟刚 |
地址: | 德国海尔*** | 国省代码: | 德国;DE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种集成电路,其包括MOS末级晶体管(T1);控制端子(TxD),用以施加控制信号,控制末级晶体管(T1)的导通和截止;充电晶体管(LT),在末级晶体管(T1)导通时向末级晶体管(T1)的栅极(GE)施加充电电流(I1),在末级晶体管(T1)截止时向末级晶体管(T1)的栅极(GE)施加放电电流(I2)。按照本发明设置了关断控制单元(ASE),其在末级晶体管(T1)截止时,在第二时间间隔中向该栅极(GE)施加附加的放电电流(IZE),而在第二时间间隔结束时关断附加的放电电流(IZE)。其用途例如用于现场总线驱动器。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 | ||
【主权项】:
1.集成电路,包括:-MOS末级晶体管(T1),-控制端子(TxD),用以施加控制信号,控制末级晶体管(T1)的导通和截止,-充电晶体管(LT),其在末级晶体管(T1)导通时给末级晶体管(T1)的栅极(GE)施加充电电流(I1),-放电晶体管(ET),其在末级晶体管(T1)截止时给末级晶体管(T1)栅极(GE)施加放电电流(I2),和-关断控制单元(ASE),其在末级晶体管(T1)截止时在第一时间间隔中给该栅极(GE)施加附加的放电电流(IZE),而第一时间间隔结束时关断附加的放电电流(IZE),其特征在于,该关断控制单元包括:-电压确定单元(T3,IS2),用以确定末级晶体管漏极上的电压,其给出与在末级晶体管漏极上出现的电压相关的漏极电压信号(DS),-关断控制逻辑单元(ALE),其测量该控制信号和漏极电压信号(DS)并据此产生放电电流控制信号(SE),-由放电电流控制信号控制的传递门(TG)和-双极性快速放电晶体管(BT),其中该传递门(TG)与末级晶体管的栅极和基准电位,特别是地之间的快速放电晶体管(BT)的集电极-发射极间隔串联。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱特梅尔(德国)有限公司,未经爱特梅尔(德国)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610081927.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:带有接近传感器的控制元件
- 下一篇:HIV-依赖型表现构筑体及其用途