[发明专利]用于制造独立式纳米结构的方法和系统无效
申请号: | 200610059226.4 | 申请日: | 2006-02-24 |
公开(公告)号: | CN1825538A | 公开(公告)日: | 2006-08-30 |
发明(设计)人: | R·霍耶尔;A·杜蓬特 | 申请(专利权)人: | 因芬尼昂技术股份公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/28;B08B3/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王岳;梁永 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 系统和方法包括将半导体晶片引入处理室。将蚀刻化学成分注入到处理室以蚀刻图案化层和释放半导体晶片上的独立式纳米结构。蚀刻化学成分包括超临界或液态二氧化碳流体和蚀刻溶液。通过将超临界或液态二氧化碳流体涌入处理室来清洗半导体晶片。通过从处理室排出超临界或液态二氧化碳流体来干燥半导体晶片。 | ||
搜索关键词: | 用于 制造 立式 纳米 结构 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种制造独立式纳米结构的方法,包括:提供包含衬底和衬底上方的图案化层的半导体晶片,该图案化层包括从图案化层的上表面延伸到衬底的上表面的多个开口和布置在开口内的结构元件;提供一个处理室,该处理室被配置成容纳半导体晶片;将该半导体晶片引入处理室;将蚀刻化学成分注入处理室以蚀刻图案化层并释放结构元件作为半导体晶片上的独立式纳米结构,该蚀刻化学成分包括二氧化碳流体和蚀刻溶液;通过将二氧化碳流体流进处理室来清洗半导体晶片;以及通过将超临界二氧化碳流体注入处理室和通过从处理室排出超临界二氧化碳流体来干燥半导体晶片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造