[发明专利]一种采用共溅射沉积法制备碲化铋合金薄膜的方法无效
申请号: | 200610016269.4 | 申请日: | 2006-10-25 |
公开(公告)号: | CN101168836A | 公开(公告)日: | 2008-04-30 |
发明(设计)人: | 范洪涛 | 申请(专利权)人: | 国家纳米技术与工程研究院 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/06;C23C14/54;C23C14/58 |
代理公司: | 国嘉律师事务所 | 代理人: | 高美岭 |
地址: | 300457天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 一种采用共溅射沉积法制备碲化铋合金薄膜的方法,在磁控溅射仪上实施,将高纯碲片用导电胶粘贴于高纯铋标准靶上,以此复合靶作为溅射靶材进行共同溅射;以单晶硅片作为薄膜衬底;其工艺参数为:本底真空度高于1.0×10-3Pa、工作氩气压力0.2-3Pa、靶基距4-10cm、基片台旋转每分钟5-15圈、薄膜衬底温度100-300℃、溅射电源功率20-100W、退火温度200-300℃。本发明的优点是:通过改变标准靶材上贴片靶的大小和数量,可很容易地调整沉积薄膜的成分;尤其对于溅射化合物靶沉积的薄膜成分有较大差别,以及探索最佳成分掺杂量来说,该方法简单、可操作性强、产品质量可靠、重现性好。 | ||
搜索关键词: | 一种 采用 溅射 沉积 法制 备碲化铋 合金 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
1.一种采用共溅射沉积法制备碲化铋合金薄膜的方法,在磁控溅射仪上实施,其特征在于:将高纯碲片作贴片靶,用导电胶粘贴于高纯铋标准靶上,以此复合靶作为溅射靶材进行共同溅射;高纯碲片为园形,直径为标准靶材半径的30-50%,数量3-6片,均布于标准靶上;以单晶硅片作为薄膜衬底,置于溅射靶台对面;其工艺参数为:本底真空度高于1.0×10-3Pa、工作氩气压力0.2-3Pa、靶基距4-10cm、基片台旋转每分钟5-15圈、薄膜衬底温度100-300℃、溅射电源功率20-100W、退火温度200-300℃、退火时间0.5-2小时。
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