[发明专利]一种采用共溅射沉积法制备碲化铋合金薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 200610016269.4 申请日: 2006-10-25
公开(公告)号: CN101168836A 公开(公告)日: 2008-04-30
发明(设计)人: 范洪涛 申请(专利权)人: 国家纳米技术与工程研究院
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/06;C23C14/54;C23C14/58
代理公司: 国嘉律师事务所 代理人: 高美岭
地址: 300457天津*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种采用共溅射沉积法制备碲化铋合金薄膜的方法,在磁控溅射仪上实施,将高纯碲片用导电胶粘贴于高纯铋标准靶上,以此复合靶作为溅射靶材进行共同溅射;以单晶硅片作为薄膜衬底;其工艺参数为:本底真空度高于1.0×10-3Pa、工作氩气压力0.2-3Pa、靶基距4-10cm、基片台旋转每分钟5-15圈、薄膜衬底温度100-300℃、溅射电源功率20-100W、退火温度200-300℃。本发明的优点是:通过改变标准靶材上贴片靶的大小和数量,可很容易地调整沉积薄膜的成分;尤其对于溅射化合物靶沉积的薄膜成分有较大差别,以及探索最佳成分掺杂量来说,该方法简单、可操作性强、产品质量可靠、重现性好。
搜索关键词: 一种 采用 溅射 沉积 法制 备碲化铋 合金 薄膜 方法
【主权项】:
1.一种采用共溅射沉积法制备碲化铋合金薄膜的方法,在磁控溅射仪上实施,其特征在于:将高纯碲片作贴片靶,用导电胶粘贴于高纯铋标准靶上,以此复合靶作为溅射靶材进行共同溅射;高纯碲片为园形,直径为标准靶材半径的30-50%,数量3-6片,均布于标准靶上;以单晶硅片作为薄膜衬底,置于溅射靶台对面;其工艺参数为:本底真空度高于1.0×10-3Pa、工作氩气压力0.2-3Pa、靶基距4-10cm、基片台旋转每分钟5-15圈、薄膜衬底温度100-300℃、溅射电源功率20-100W、退火温度200-300℃、退火时间0.5-2小时。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国家纳米技术与工程研究院,未经国家纳米技术与工程研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610016269.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top