[发明专利]用于测量颗粒物质的质量流率的装置有效

专利信息
申请号: 200610006844.2 申请日: 2006-02-05
公开(公告)号: CN1815152A 公开(公告)日: 2006-08-09
发明(设计)人: Y·茨维费尔 申请(专利权)人: 梅力弗公司
主分类号: G01F1/76 分类号: G01F1/76;G01G11/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 原绍辉
地址: 瑞士埃*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 发明涉及测量以为动的方向的预定方向移动的颗粒物质流的质量流率的装置,其特征在于:其在颗粒物质流内并具有由在内外表面间限定的管状壁组成的称量单元,其具有体积、截面、重量预定值,且设置为颗粒物质流穿过它;至少在第一预定时间间隔称量由称量单元和包含在其中的颗粒物质的量构成的整体及产生至少代表该重量的值的第一信号的第一设备;至少在第一预定时间间隔测量流经称量单元的颗粒物质流动速度并产生代表包含在其中的颗粒物质流动速度的第二信号的第二设备;用第一信号、第二信号、称量单元体积、截面以及重量预定值计算颗粒物质体积密度,在第一预定时间间隔流经其的颗粒物质质量流率及产生代表该质量流率的第三信号的第三设备。
搜索关键词: 用于 测量 颗粒 物质 质量 装置
【主权项】:
1、测量颗粒物质(3)的流(40)的质量流率(DM)的装置(1),该颗粒物质以预定方向(63),即流的所述预定方向(63)移动,该装置(1)的特征在于:其位于颗粒物质(3)的流(40)内,并且具有:-由管状壁(60)组成的称量单元(6),在内表面(61)和外表面(62)之间限定该管状壁,该称量单元(6)具有预定值为(V)的体积、预定值为(C)的截面、预定值为(W)的重量,并且设置该称量单元为使颗粒物质(3)的流(40)穿过该称量单元,-第一设备(7),其至少在第一预定时间间隔(Z)期间:●称量由称量单元(6)以及包含在该称量单元(6)中的颗粒物质(3)的量构成的整体,以及●产生第一信号(S1),其至少代表由称量单元(6)以及包含在所述称量单元(6)中的颗粒物质(3)的量构成的整体的重量的值(P),-第二设备(8),至少在第一预定时间间隔(Z)期间,其测量流经称量单元(6)的颗粒物质(3)的流动速度(E),并且产生第二信号(S2),其代表包含在所述称量单元(6)中的颗粒物质(3)的流动速度(E),-第三设备(9),其使用第一信号(S1)、第二信号(S2)、称量单元(6)的体积预定值(V)、所述称量单元(6)的截面预定值(C)以及称量单元(6)的重量预定值(W),从而●计算颗粒物质(3)的体积密度(Q),●计算在第一预定时间间隔(Z)期间流经称量单元(6)的颗粒物质(3)的质量流率(DM),以及●产生第三信号(S3),其代表在第一预定时间间隔(Z)期间流经称量单元(6)的颗粒物质(3)质量流率(DM)。
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