[发明专利]用于测量颗粒物质的质量流率的装置有效
| 申请号： | 200610006844.2 | 申请日： | 2006-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN1815152A | 公开（公告）日： | 2006-08-09 |
| 发明（设计）人： | Y·茨维费尔 | 申请（专利权）人： | 梅力弗公司 |
| 主分类号： | G01F1/76 | 分类号： | G01F1/76;G01G11/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 原绍辉 |
| 地址： | 瑞士埃*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 测量 颗粒 物质 质量 装置 | ||
【说明书】：
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