[发明专利]连续一列式阴影掩膜沉积过程中用多次沉积事件形成导通孔的系统和方法有效
申请号: | 200580044297.0 | 申请日: | 2005-12-20 |
公开(公告)号: | CN101088151A | 公开(公告)日: | 2007-12-12 |
发明(设计)人: | 托马斯·P·布罗迪;约瑟夫·A·马尔卡尼奥;杰弗里·W·康拉德;蒂莫西·A·考恩 | 申请(专利权)人: | 阿德文泰克全球有限公司 |
主分类号: | H01L21/4763 | 分类号: | H01L21/4763;C23C16/00 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈源;张天舒 |
地址: | 英属维尔京*** | 国省代码: | 维尔京群岛;VG |
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摘要: | 在连续一列式阴影掩膜生产系统中通过沉积第一导电层随后在第一导电层的一部分之上沉积第一绝缘层来形成导通孔。第一绝缘层是以沿其边缘定义至少一个凹口的方式沉积的。然后第二绝缘层以该第二绝缘层与第一绝缘层的每个凹口稍微重叠来形成一个或者多个导通孔的方式被沉积在第一导电层的另一部分上,从而形成一个或多个导通孔。导电填充物可以有选择性地沉积在每个导通孔中。最后,第二导电层可以被沉积在第一绝缘层、第二绝缘层、以及导电填充物(如果提供)上。 | ||
搜索关键词: | 连续 一列 阴影 沉积 过程 中用 多次 事件 形成 导通孔 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种阴影掩膜气相沉积方法,其包含步骤:(a)在基片上气相沉积第一导电层;(b)在所述第一导电层上分别气相沉积一对绝缘层,其中这对被沉积的绝缘层中的一个沿其边缘定义一个槽并且该槽和这对被沉积的绝缘层中另一个的边缘的组合定义一个导通孔;以及(c)在所述第一和第二绝缘层上气相沉积第二导电层,其中所述第一和第二导电层通过所述导通孔中的导电体进行电连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造