[发明专利]镶嵌铜布线图像传感器有效

专利信息
申请号: 200580035823.7 申请日: 2005-11-18
公开(公告)号: CN101044631A 公开(公告)日: 2007-09-26
发明(设计)人: 詹姆斯·W.·阿德金森;杰弗里·P.·加比诺;马克·D.·加菲;罗伯特·K.·莱迪;安东尼·K.·斯坦博 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L31/062 分类号: H01L31/062;H01L21/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李春晖
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种CMOS图像传感器阵列(100)及其制造方法,其中所述传感器包括铜(Cu)金属化层(M1、M2),允许结合具有改善的厚度均匀性的更薄的层间电介质叠层(130a-c)以获得光敏度提高的像素阵列。在传感器阵列中,每一个Cu金属化层包括形成在每一个阵列像素之间的位置的Cu金属布线结构(135a、135b)。阻挡材料层(132a、132b)形成在横越像素光路的每一个Cu金属布线结构的顶部。通过实施单掩模或自对准掩模方法,执行单次蚀刻以彻底地去除横越所述光路的阻挡层和层间电介质。然后用电介质材料(150)再填充蚀刻的开口(51)。在淀积再填充电介质之前,反射层或吸收材料层(140)沿着蚀刻开口的侧壁形成以通过反射光到下伏的光电二极管(18)或通过消除光反射来提高像素的灵敏度。
搜索关键词: 镶嵌 布线 图像传感器
【主权项】:
1、一种包括像素阵列的图像传感器,其中每一个像素包括:顶层,其包括用于接收光的像素微透镜;半导体衬底,其包括形成在其中用于接收入射到所述像素微透镜的光的感光元件;电介质材料结构,其设置在所述顶层和形成在所述衬底中的所述感光元件之间的光路中;以及层间电介质材料层的叠层,在层间电介质材料层之间形成有两个或多个Cu金属化层,每一个所述金属化层包括和所述像素的所述电介质材料结构相邻形成的Cu金属布线结构,每一个所述Cu金属布线结构包括形成在其上的阻挡材料层,其中,在所述像素中蚀刻开口以确定所述光路之后,作为电介质再填充工艺的一部分,形成所述电介质材料结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国际商业机器公司,未经国际商业机器公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200580035823.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top