[发明专利]用于测量与基底关联的电磁辐射响应特性的方法和设备

摘要

公开了用于测量与基底(210)关联的电磁辐射响应特性的方法和设备。所述方法和设备产生电磁波(216，218)，所述波穿过第一偏振滤光器(236)，再从基底反射并穿过相对于所述第一偏振滤光器成交叉偏振排列的第二偏振滤光器(204)，然后所述产生的波的一部分被所述方法和设备捕获。数字数据从捕获到的电磁波确定。基于所述数字数据，可给予顾客某些选择和/或告知其某些个人护理产品推介。

主权项

1.一种测量与基底关联的电磁辐射响应特性的方法，所述方法包括以下步骤：产生电磁波，所述电磁波在达到基底之前穿过第一偏振滤光器，所述第一偏振滤光器具有第一光轴；在所述电磁波的一部分从基底反射开来并穿过第二偏振滤光器之后捕获电磁波的该部分，所述第二偏振滤光器具有第二光轴，所述第一光轴非平行于第二光轴；从捕获到的电磁波的部分确定与基底的第一坐标关联的第一光强值；从捕获到的电磁波的部分确定与基底的第二坐标关联的第二光强值，所述第二光强值不同于第一光强值，所述第二坐标不同于第一坐标；以及在电子存储装置中存储第一光强值和第二光强值的表示。