[发明专利]用于校准电磁测量装置的方法和设备

摘要

公开了用于测量与基底(210)关联的电磁辐射响应特性并校准电磁测量装置(100)的方法和设备。方法和设备产生电磁波，波穿过第一偏振滤光器，再从基底反射并穿过相对于第一偏振滤光器成交叉偏振排列的第二偏振滤光器，然后产生的波的一部分被方法和设备捕获。另外，设备捕获穿过衰减滤光器并从一个或多个校准基准反射过来的电磁波。数字数据从捕获到的电磁波确定。数字数据用来重新校准设备。

主权项

1.一种被构造用来测量与基底关联的电磁辐射响应特性的自校准设备，所述设备包括：电磁源；电磁捕获装置；与电磁源相距第一距离而被机械固定的一个或多个校准基准；与电磁源相距第二距离而被机械固定的人体对位装置，所述第一距离不同于第二距离；挡住校准基准而被机械固定的衰减滤光器；和可操作地连接到电磁源和电磁捕获装置的计算装置，所述计算装置被构造用来使得电磁源产生电磁波，所述计算装置被构造用来从电磁捕获装置接收电子信息。