[发明专利]光纤母材的芯部不圆度的测量方法及其装置有效
| 申请号： | 200580009028.0 | 申请日： | 2005-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN1934432A | 公开（公告）日： | 2007-03-21 |
| 发明（设计）人： | 乙坂哲也 | 申请（专利权）人： | 信越化学工业株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01B11/08 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种光纤母材的芯部不圆度的测量方法及其装置，是测定具有芯部及包层部的光纤母材的芯部不圆度的方法，其特征在于，使光纤母材浸渍于与该光纤母材的包层部的折射率大略相等的液体中，从该光纤母材的侧面照射平行光并测定透射光的强度分布，测定由通过芯部的光所产生的暗部的宽度以求芯径相对值，更使光纤母材旋转以求得周方向复数点的芯相对值，基于所得的复数芯径相对值以求得芯部不圆度。不受芯/包层的折射率差及投光器/受光器的间隔影响，能够经常正确并且容易的测定芯部不圆度。 | ||
| 搜索关键词： | 光纤 芯部不圆度 测量方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光纤母材的芯部不圆度的测定方法，是测定具有芯部及包层部的光纤母材的芯部不圆度的测定方法，其特征在于，使光纤母材浸渍于与上述光纤母材的芯部的折射率大略相同的液体中，从上述光纤母材的侧面照射平行光以测定透射光的强度分布，测定由通过上述芯部的光在上述强度分布所产生的暗部的宽度以求得芯径相对值，更使上述光纤母材旋转以在周方向的复数点求得上述芯径相对值，基于所得的上述些复数芯径相对值以求得芯部不圆度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于信越化学工业株式会社，未经信越化学工业株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200580009028.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
