[发明专利]测量装置及方法,以及记录介质有效
申请号: | 200510070058.4 | 申请日: | 2005-04-28 |
公开(公告)号: | CN1694580A | 公开(公告)日: | 2005-11-09 |
发明(设计)人: | 浅田宏平 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | H04S7/00 | 分类号: | H04S7/00;H04R29/00;H04R3/14 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 钱慰民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种测量装置包括脉冲响应获得部分,它获得脉冲响应;正变换部分,它对由脉冲响应获得部分所获得的脉冲响应进行正变换;低通滤波器,它将已由正变换部分进行了正变换的响应波形低通滤波;频率特性获得部分,它获得由脉冲响应获得部分所获得的脉冲响应的频率特性;滤波特性设定部分,它设定低通滤波器的滤波特性,以便可以根据由频率特性获得部分所获得的频率特性而变化;以及测量结果获得部分,它基于由低通滤波器获得的波形而获得关于预定测量项目的测量结果。 | ||
搜索关键词: | 测量 装置 方法 以及 记录 介质 | ||
【主权项】:
1.一种测量装置,其特征在于,包括:脉冲响应获得部件,它用于获得脉冲响应;正变换部件,它用于对通过脉冲响应获得部件获得的脉冲响应执行正变换;低通滤波器部件,它用于将已由正变换部件进行正变换的响应波形进行低通滤波;频率特性获得部件,它用于获得脉冲响应获得部件所获得的脉冲响应的频率特性;滤波特性设定部件,它用于设定低通滤波部件的滤波特性,以便可以根据由频率特性获得部件获得的频率特性而变化;以及测量结果获得部件,它用于基于由低通滤波部件获得的波形而获得关于预定测量项目的测量结果。
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