[发明专利]一种测量散射光空间分布的方法和装置无效
申请号: | 200510059637.9 | 申请日: | 2005-03-30 |
公开(公告)号: | CN1657909A | 公开(公告)日: | 2005-08-24 |
发明(设计)人: | 劳彩莲;李保国;郭焱 | 申请(专利权)人: | 中国农业大学 |
主分类号: | G01N21/47 | 分类号: | G01N21/47;G01N21/17 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李光松 |
地址: | 100083北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了属于光学检测技术领域的一种测量散射光空间分布的方法和装置。在控制及传动柜的台面上中部由样品架支柱支持滑轨和检测阵列滑块,样品架固定在样品架支柱的顶端,样品架安装在整个测量装置的中心位置,样品环由样品架托住,台面左边的光源组件立柱上固定光源组件;其中样品环的中心位置与光源的光轴在同一条水平线上。整个测量系统由电脑控制界面进行控制,通过使用不同波长的激光二极管作为光源,改变入射光的波长。样品的散射光强由排列在1/4圆弧上的检测阵列滑块检测,系统可以在较短时间内,精确地测定植物叶片等样品在选择吸收波长下的BRDF/BTDF测定值。用于农业信息检测及用于计算机真实感图形显示的相关技术。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 散射 空间 分布 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种测量散射光空间分布的装置,所述散射光测量装置由光源组件、样品架、滑轨、检测阵列滑块、控制及传动柜组成,其特征在于:在控制及传动柜(5)的台面上中部由样品架支柱(9)支持滑轨(1)和检测阵列滑块(2),样品架的U型托架(3)固定在样品架支柱(9)的顶端,样品环(6)由样品环转动手柄(7)和样品环固定钮(8)支持在样品架的U型托架(3)的U字开口端;左边光源组件(4)由光源组件立柱(10)固定在台面上。
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