[发明专利]半导体器件和用于半导体器件的多层基板无效

专利信息
申请号: 200510056366.1 申请日: 2005-03-18
公开(公告)号: CN1674219A 公开(公告)日: 2005-09-28
发明(设计)人: 田中直敬;河野贤哉;永井朗;田崎耕司;安田雅昭 申请(专利权)人: 日立化成工业株式会社
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/58;H01L21/60;H01L23/12
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王以平
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明实现一种提高了凸点电极和基板电极的连接可靠性的半导体器件。将用于电连接金属凸点(2)和布线图形(4)、密封LSI芯片(1)的LSI电路面的粘接材料(3)的热固化后的弹性系数设为Ea,将承载基板(8)表层的绝缘材料(5)的热固化后的弹性系数设为Eb,并且在具有芯层的多层基板的情况下将其芯材料(6)的弹性系数设为Ec时,在常温及粘接材料(3)的热压接合温度下,用满足如下的关系式的材料体系来构成半导体器件。即,至少Ea<Eb<Ec,优选1/3Eb<Ea<Eb<3Ea(<Ec)。按这样的关系来设定弹性系数,由于不论压接载重的大小及其批量生产时的偏差如何都能够实现稳定连接的状态,因此,就能够确保低成本、高合格率。
搜索关键词: 半导体器件 用于 多层
【主权项】:
1、一种半导体器件,包括:形成有金属性凸点电极的半导体元件;具有与该半导体元件的凸点电极配置位置相对应地配置的布线层及多个绝缘材料层的多层基板;用于在该多层基板的布线层和金属凸点接触的状态下使上述多层基板和上述半导体元件连接的、位于上述半导体元件和上述多层基板之间的热固化性粘接材料,其特征在于:将上述热固化性粘接材料的热固化后的弹性系数设为Ea、并将上述多层基板的半导体元件侧绝缘材料层的热固化后的弹性系数设为Eb时,在常温环境或金属凸点和上述布线层的热压接合温度下,满足1/3Eb<Ea<Eb<3Ea的关系。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日立化成工业株式会社,未经日立化成工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510056366.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top