[发明专利]测量激光光束平行性的装置无效

专利信息
申请号: 200510028736.0 申请日: 2005-08-12
公开(公告)号: CN1731085A 公开(公告)日: 2006-02-08
发明(设计)人: 朱青;徐文东;高秀敏;张锋;杨金涛;戴珂 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01B21/22 分类号: G01B21/22;G01B11/26
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种测量激光光束平行性的装置,本发明采用被检测光束、光阑、会聚透镜、半透半反镜、两个柱透镜、两个四象限探测器和计算机组成测量装置;会聚物镜、半透半反镜、两个柱透镜和两个四象限探测器构成光束平行性检测器,基于象散法聚焦误差探测来进行光束平行性的探测。采用差动法消除由于入射光离轴造成的探测误差。可以通过设计光学系统以拥有任意灵敏度和线性范围;尤其适合测量高质量的小口径,小发散角的具有旋转对称性的激光光束。
搜索关键词: 测量 激光 光束 平行 装置
【主权项】:
1、一种测量激光光束平行性的装置,特征在于其构成是:同光轴地依次设有光阑(2)、会聚透镜(3)、半透半反镜(4)、第一柱透镜(5)、第一四象限探测器(7),在所述的半透半反镜(4)的反射光方向,即垂直于所述的光轴方向依次是第二柱透镜(6)、第二四象限探测器(8),所述的第一柱透镜(5)和第二柱透镜(6)关于所述的半透半反镜(4)的分光面相对称,所述第一四象限探测器(7)和第二四象限探测器(8)的信号输出端与计算机(9)的输入端相连。
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