[发明专利]压阻式大过载加速度计及其制备方法无效
申请号: | 200510012252.7 | 申请日: | 2005-07-26 |
公开(公告)号: | CN1740796A | 公开(公告)日: | 2006-03-01 |
发明(设计)人: | 张威;石进杰;郝一龙;李婷;张大成;王阳元 | 申请(专利权)人: | 北京青岛元芯微系统科技有限责任公司 |
主分类号: | G01P15/12 | 分类号: | G01P15/12 |
代理公司: | 北京君尚知识产权代理事务所 | 代理人: | 俞达成 |
地址: | 100871北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种采用Si基MEMS技术加工的压阻式大过载加速度计,本发明利用Si材料的压阻效应,当所受应力发生改变时其体电阻也随之改变,通过在Si表面离子注入形成压电电阻,并将电阻连接成惠斯通电桥的形式,并将压阻下面的区域挖空形成一个薄膜,当有外界冲击时,薄膜在惯性作用下发生形变,从而使电桥的一对电阻变大,一对电阻变小,从而电桥输出发生改变,从而实现了从机械冲击信号到电信号的转变,输出信号经放大和温度补偿之后就可以用来标定加速度的大小。本发明的压阻式大过载加速度计灵敏度较高,加工工艺与集成电路工艺兼容,易于实现;采用压阻工作信号处理电路简单;便于设计抗高过载结构。 | ||
搜索关键词: | 压阻式大 过载 加速度计 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种压阻式大过载加速度计,具体包括以下结构:敏感质量块,用于在加速度计经受到敏感方向的冲击时,使其相对于硅衬底产生位移变形;四个横梁,用来作为质量块的支撑臂,和压阻的制备区域;压电电阻,分别位于四个横梁和边框交界的地方;金属连线,用于将四个压阻电连接在一起;边框,用来安装整个加速度计,质量块通过四个横梁连接到边框上。
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