[发明专利]接触器及利用接触器的测试方法有效
| 申请号： | 200480044427.6 | 申请日： | 2004-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN101061609A | 公开（公告）日： | 2007-10-24 |
| 发明（设计）人： | 小泉大辅;小桥直人;田代一宏;熊田原巧 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | H01R33/76 | 分类号： | H01R33/76;G01R1/073 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张龙哺 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 由导电性材料形成的接触件分别设置在接触器基板上的多个孔内。在各孔的内壁面上形成有导电部。接触件具有与电子元件的端子相接触的第一接触部、在中间部分与导电部相接触的第二接触部。当第一接触部被按压而使接触件弯曲时，第二接触部与接触器基板的导电部相接触而能够得到适当的接触压力。 | ||
| 搜索关键词： | 接触器 利用 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种接触器，用于将电子元件的端子与外部电路电连接，其特征在于，具有：接触器基板，其具有多个孔；多个接触件，其由导电性材料形成，而且分别插入在该接触器基板的各个孔，并且一部分从该孔突出而延伸；导电部，其形成在各个孔的内壁面上，各个接触件具有第一接触部和第二接触部，并通过该第二接触部与上述外部电路电连接，其中，该第一接触部与对应的电子元件的一个端子接触，而且，在上述接触件的中间部分，该第二接触部与上述导电部相接触。
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