[发明专利]减小成像器件中暗电流和有缺陷的像素的影响的方法和设备有效
| 申请号： | 200480024492.2 | 申请日： | 2004-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN1843028A | 公开（公告）日： | 2006-10-04 |
| 发明（设计）人： | C·穆利 | 申请（专利权）人： | 微米技术有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/16 | 分类号： | H04N5/16;H04N5/217 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;王勇 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 用于识别和补偿具有图像处理设备的高分辨率数字摄像机中有缺陷的像素的影响的方法和设备。所述设备包括：存储系统，用于存储与像素阵列捕获的暗电流基准图像和白基准图像以及至少一个实际图像对应的数据；以及至少一个处理器，它连接到存储系统，用于根据存储的数据补偿与实际图像对应的数据。所述方法包括：捕获和存储暗基准图像和白基准图像两者以及捕获和存储实际图像；识别受暗电流影响的像素或有缺陷的像素；从所述存储系统读出实际图像的与受暗电流影响的或有缺陷的像素对应的数据；以及补偿所述受影响的像素。 | ||
| 搜索关键词： | 减小 成像 器件 电流 缺陷 像素 影响 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种图像处理设备，它包括：存储系统，用于存储与至少一个实际图像对应的第一数据和与通过像素阵列捕获的至少一个暗电流基准图像和至少一个白基准图像中至少一个对应的第二数据；以及处理器，它连接到所述存储系统，用于利用所述第二数据补偿所述第一数据。
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