[发明专利]X射线检查装置和X射线检查方法无效

专利信息
申请号: 200410088251.6 申请日: 2004-08-27
公开(公告)号: CN1595124A 公开(公告)日: 2005-03-16
发明(设计)人: 市原胜;吉野信治;井上博之;木下俊生;大内一生 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;H05G1/26;H05G1/08;H05G1/02
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 包于俊
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的X射线检查装置和X射线检查方法是这样构成的,保持被来自X射线照射装置的X射照射的检查对象物,使用进行向任意角度和任意方向倾斜的摇动动作的摇动装置,在X射线检出装置中摄像通过检查对象物的X射线,在控制装置中,从来自X射线检出装置的X射线图像抽出任意断层面的数据。
搜索关键词: 射线 检查 装置 方法
【主权项】:
1.一种X射线检查装置,产生X射线并向检查对象物照射X射线,其特征在于,具备:检出通过上述检查对象物的来自上述X射线照射装置的X射线的X射线检出装置;将上述检查对象物保持在从上述X射线照射装置向上述X射线检出装置的X射路线之间,相对上述X射线路线的X射线照射轴沿任意角度和任意方向驱动上述检查对象物的摇动装置;和驱动控制上述摇动装置和上述X射线照射装置,输入来自上述X射线检出装置的X射线图像数据并显示上述X射线图像数据的控制装置。
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