[发明专利]X射线检查装置和X射线检查方法无效
申请号: | 200410088251.6 | 申请日: | 2004-08-27 |
公开(公告)号: | CN1595124A | 公开(公告)日: | 2005-03-16 |
发明(设计)人: | 市原胜;吉野信治;井上博之;木下俊生;大内一生 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;H05G1/26;H05G1/08;H05G1/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 包于俊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的X射线检查装置和X射线检查方法是这样构成的,保持被来自X射线照射装置的X射照射的检查对象物,使用进行向任意角度和任意方向倾斜的摇动动作的摇动装置,在X射线检出装置中摄像通过检查对象物的X射线,在控制装置中,从来自X射线检出装置的X射线图像抽出任意断层面的数据。 | ||
搜索关键词: | 射线 检查 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种X射线检查装置,产生X射线并向检查对象物照射X射线,其特征在于,具备:检出通过上述检查对象物的来自上述X射线照射装置的X射线的X射线检出装置;将上述检查对象物保持在从上述X射线照射装置向上述X射线检出装置的X射路线之间,相对上述X射线路线的X射线照射轴沿任意角度和任意方向驱动上述检查对象物的摇动装置;和驱动控制上述摇动装置和上述X射线照射装置,输入来自上述X射线检出装置的X射线图像数据并显示上述X射线图像数据的控制装置。
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