[发明专利]紫外线测量方法以及紫外线测量装置无效
| 申请号： | 200410084110.7 | 申请日： | 2004-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN1760649A | 公开（公告）日： | 2006-04-19 |
| 发明（设计）人： | 八木茂 | 申请（专利权）人： | 富士施乐株式会社 |
| 主分类号： | G01J1/02 | 分类号： | G01J1/02 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 紫外线测量方法以及紫外线测量装置。使用具有特定光谱灵敏度的紫外线接收元件的紫外线测量方法包括：根据紫外线接收元件的光谱灵敏度和太阳光谱辐射谱对整个区域的估算值进行估算；根据特定作用曲线、光谱灵敏度以及太阳光谱辐射谱对特定区域的估算值进行估算；以及，通过根据所述整个区域的估算值和所述特定区域的估算值对紫外线接收元件所测量的实际测得值进行校正来确定特定紫外线信息。此外，还对根据太阳高度信息而获取的特定紫外线信息进行校正。 | ||
| 搜索关键词： | 紫外线 测量方法 以及 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种利用具有特定光谱灵敏度的紫外线接收元件的紫外线测量方法，所述方法包括：根据紫外线接收元件的光谱灵敏度和太阳光谱辐射谱估算整个区域的估算值；根据特定作用曲线、光谱灵敏度以及太阳光谱辐射谱估算特定区域的估算值；以及，通过根据所述整个区域的估算值和所述特定区域的估算值对紫外线接收元件所测量的实际测得值进行校正，来确定特定紫外线信息。
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